Post on 11-Jul-2015
Dispositivo de perfilaje
Unidad de perfilaje
Panel de controlTambor del cable
Medidor de profundidad Punto de profundidad cero1
Tema 5
PERFILAJE A POZO DESNUDO Propiedades elctricas Propiedades acsticas
Porosidad Saturaciones Arcillosidad permeabilidad Espesores Litologa ETC.
Propiedades radioactivas
2
PERFILES DE POZOSRESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL) Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP Laterolog (LL) Dual-Laterolog (DLL) Induccin (IL) Doble-Induccin (DIL)
ACUSTICOSSnico Compensado (BHC) Snico de Esp. Largo Snico Digital
RADIOACTIVOSDensidad (FDC) Litodensidad (LDL) Neutrones (CNL) (SNP) Neutrn de Doble Porosidad Rayos Gamma Rayos Gamma Espectral
Esfrico (SFL)
MICRO RESISTIVOSMicrolog (ML) Microlaterolog (MLL) Proximity (PL) Microesfrico (MSFL) 3
APLICACIONES DE LOS REGISTROS(En hoyo desnudo)
Cualitativas :Cuantitativas :
Correlacin Litologa Espesor de arena Porosidad Saturacin de agua - hidrocarburos Permeabilidad Arcillosidad
Especiales :
Buzamiento , Desviacin, Fracturas, Geomecnica, Geofsica etc. Espesor y rea (mapa) volumen de la roca Porosidad y saturaciones4
volumen de los fluidos
Caracterizacin del yacimiento y determinacn de la reserva
Propiedades medidas por los perfiles
ELECTRICAS
Resistividad Potencial espontneo
ACUSTICAS
Velocidad del sonido Natural Rayos Gamma Densidad total Indice de hidrgeno
RADIACTIVAS5
Inducida
Utilizacin de los registros segn la propiedad medida
DeterminaResistividad Induccin Laterolog Microesfrico
Saturacin de agua Rw Vsh
SP
Acstica
Snico
Porosidad
Rayos Gamma Rayos Gamma EspectralRadioactiva6
LitologaPorosidad
Densidad Neutrn
PERFILES DE POZOS
RESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL) Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) Fuera del mercado desde los aos setentas
SP
Se corre todava en la actualidad
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SP - Potencial Espontneo * Es un potencial elctrico desarrollado en el pozo debido al movimiento de los iones presentes en el agua de formacin y en el barro de perforacin * El movimiento de los iones se debe al contraste de salinidad entre el agua de formacin y el filtrado de barro de perforacin * Los iones se migran de la solucin de alta concentracin a la de baja concentracin y son principalmente iones de Cl- y Na+ * Estos iones se migran por dos trayectorias originando dos potenciales Potencial de contacto Ed 8 Potencial membrana Esh
Desarrollo del potencial espontneoCl Cl Cl Cl -
+
+Cl Cl Cl Cl -
Na +Na +Cl -
Na +Cl -
Na + Na +
+ Na + Na + Na + + +
Lutita
+ Cl Na + ClNa + Cl Cl - Na Na + Cl Na + Na + Cl + Na
Barro
Potencial de contacto (Ed) Potencial de membrana (Esh)
Baja concentracin
Alta concentracin
Filtrado Agua de formacin
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Desarrollo del potencial espontneoGenera un voltajeNa +
Na +Na +
Potencial de lutita Esh
Na +Cl - Na + Cl Na + Cl Na +
Na +Cl Cl Cl Cl -
Na +
Cl -
Genera un voltajePotencial de contacto Ed o EsandCl -
Cl
-
Na + Na +
Cl Cl -
Cl Cl -
Na +
Na + Na +
Invasin
Baja concentracin
Alta concentracin
Curva de SP = Ed + Esh10
Expresin matemtica de las dos potencialesPotencial de lutita Potencial de contacto Esh = 0.111 (460 + T) log Rmfe Rwe Ed = 0.022 (460 + T) log Rmfe Rwe
Ec = Potencial electroqumico = Esh + Ed Ec = Esh + Ed = 0.133 (460 + T) log Rmfe Rwe Ec = (61 + 0.133T) log Rmfe Rwe K
Ec = K log Rmfe Rwe11
K = 61 + 0.133 T Resistividades equivalentes
Relacin entre Rw y Rmf con Rwe y Rmfe
12
Rmf
o
Definicin de SP y SSPPotencial electroqumico desarrollado Ec Ec = K log Rmfe Rwe
Ec = SSPPotencial electrqumico medido SP
Ec
SP < SSP Por efectos de factores del pozo y de la formacin
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Factores que afectan a la curva de SPSPLedo < SSP = SPDesarrollado1. Resistividad 2. Arcillosidad
Arcillosidad (Vsh)
Resitividad Alta
SPledo
SSP14
Factores que afectan a la curva de SP3 Efectos por invasin
Invasin profunda (Di grande) Invasin
SPledo
SSP
4 Efectos por capas vecinas (por espesor delgado)
SPledo < SSP
SSP
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Los efectos por espesor y por invasin pueden ser corregidos utilizando grafico preparado
SUMARIO
Factores que afectan a la curva de SP(Rt)
1 La resistividad de la formacin. 2 La arcillosidad. (Vsh) 3 La profundidad de invasin. (Di)
4 El espesor de la capa. (e)
(SP)leido = SSP - (Ef)Rt + (Ef)Vsh + (Ef)Di + (Ef)e(Ec) Potencial 16 electroqumico Efectos que reducen el potencial electroqumico
Correccin de la curva de SP Por espesor y por invasinRi Rm Tiene relacin directa con Di
Grfico para corregir SP por espesor y por invasin
Si la Porosidad baja (invasin es profunda ) La curva de SP debe corregirse si el espesor es menor que 30
30
8
Si la porosidad es alta (Invasin somera) se desprecia la correccin si el espesor es 8Invasin profunda
Correccion 10% 17
FC
Utilizacin de la curva de SP* Determinar Rw. * Determinar la arcillosidad. * Correlacionar unidades litolgicas.
* Identificar zonas permeables.18
Determinacin de Rw a partir de la curva de SPLa curva de SP puede ser usada para determinar Rw si se cumplen las siguientes condiciones:
(SP)leido = SSP - (Ef)Rt + (Ef)Vsh + (Ef)Di + (Ef)eSon despreciables
Resistividad no muy alta Arena acufera Sw = 100% La arena es limpia o libre de arcilla. Invasin no profunda (Porosidad mediana) Espesor adecuado o la lectura ha sido corregida por capas vecinas.19
SP = Ec= SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe)
Determinacin de Rw a partir de la curva de SP
SP = Ec= SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe)Determinacin de K y Rmfe
K=61+0.133*TF Rmfe a partir del grficoRmf > 0.1 a 75F Rmfe es aprono usar el grfico ximado con
Rmfe = 0.85*Rmf
Para la conversin de Rwe a Rw s se puede usar todo el grfico o algebraicamente.20
Ejemplo
Determinacin de Rw a partir de la curva de SPSSP = -68 Rmf = 0.41 a Tf = 150F SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe) K = 61+ 0.133*TF Rmfe = 0.85*Rmf(Rmf > 0.1)
K = 61+0.133*150 = 81 Rmfe = 0.85*0.41 = 0.348 SSP log ( Rmfe/Rwe) = -KRmfe/Rwe = (10)SSP -K
=
- 68 (10) - 81
= 6.9Rw=0.060
Rmfe 0.348 =0.050 Rwe = 6.9 = 6.9 Rw=0.06021
Determinacin de la arcillosidad a partir de la curva de SP SP mv
Linea de arena limpia
0 Vsh =
Y X
Y = SSP - SPA X = SSPArena considerada como limpia
X = SSP
SSP - SP
Vsh =
SSP
Y22
SPB
Ejercicio No. 2 para los participantes
Determine la fraccin de arcillas, Vsh, de los intervalos A y C de la arena 2mv
A BC23
Solucin del ejercicio No. 2 Determine la fraccin de arcillas, Vsh, de los intervalos A y C de la arena 2
SSP SP Vsh = SSP Linea de lutita mv
SSP = -72 SPA = -52 SPB = -62
VshA =
-72 (-52) -72
Arena limpiaSSP = -72 mv
VshA = 0.278 = 27.8% -72 (-62) -72
VshB = SP = -52 mv A
VshB = 0.139 = 13.9%
BSP = -62 mv24
C
Registro Elctrico ConvencionalSistema LateralRESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL)
Fundamentos de medicin
Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP
V R= I [ohm-m] I
V25
Forma de la curva Lateral en estrato gruesoCaractersticasLa curva es asimtricaEspesor = 5 x AO
Difcil de leer el valor medido
Rt=25 ohm-mValor mximo
Valor mximo
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Fundamentos de medicinRESISTIVOSELCTRICO CONVECIONAL (EL)
Registro elctrico convencionalSistema Nomal
Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP
V R= I [ohm-m]
N alejado de A y M
VEspaciamiento
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Forma de la curva Normal en estrato gruesoCaracterstcas La curva es simtrica
Su valor se lee en el mximo de la curva
Rt=25 Rleida