3 Seleccione velocidad de movimiento con las teclas ↑ ↓ y pre-

siona le tecla ENTER/MENU.

6.5.8 Modificación del rango de medición.

Programe el rango de medición de acuerdo con la muestra de precisión de ru-

gosidad.

• Procedimiento operacional.

1Seleccione “Cal. Condition” con las teclas ↑ ↓ y presione la

tecla ENTER/MENU.

2 Seleccione “Range” con las teclas ↑ ↓ y presiona le tecla

ENTER/MENU.

3 Seleccione el rango de medición que sea compatibles con

la muestra de precisión de rugosidad con las teclas ↑ ↓ y pre-

sione la tecla ENTER/MENU.

7. MODIFICACIÓN DE LAS CONDICIONES DE MEDI-

CIÓN

En este capítulo, las condiciones de medición son programadas o modificadas

de acuerdo a los parámetros de rugosidad superficial, grado de rugosidad, condiciones de la

localización de medición, etc.

El SJ-210 es compatible con cada estándar de rugosidad, tales como: JIS1982,

JIS1994, JIS2001, ISO1997, ANSI y VDA

• Como modificar las condiciones de medición.

Como los elementos de la condición de medición están interrelacionados, pro-

gramar una condición también puede determinar otras condiciones relevantes dentro del SJ-

210.

7.1 Pantalla de guía de la condición de medición.

• Pantalla de guía (figura 36)

Figura 36

• Acceder a la pantalla de condiciones de medición.

1 Presione la tecla ENTER/MENU en la pantalla de inicio y

aparece el menú principal.

2 Seleccione “Meas. Condition” con las teclas ↑ ↓ y presione

las tecla ENTER/MENU.

3 Seleccione “setting” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla

ENTER/MENU

CONSEJO: Se puede accesar a las

condiciones de medición, directa-

mente de la pantalla inicial, presio-

nando la tecla RED.

7.2 Modificación del estándar de rugosidad.

El SJ-210 es compatible con cada uno de los siguientes estándares de rugosi-

dad: JIS1982, JIS1994, JIS2001, ISO1997, ANSI y VDA.

• Procedimiento operacional.

1 Seleccione “Standard” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla

ENTER/MENU.

2 Seleccione el estándar de rugosidad compatible con la

superficie objetivo con las teclas ↑ ↓ y presione EN-

TER/MENU.

NOTA: Tenga cuidado al modificar el estándar de rugosidad,

por que se pueden modificar automáticamente otros elementos

de la condición de medición.

7.3 Modificación del perfil de evaluación

Puede modificar el perfil de evaluación para que haga juego con la superficie

objetivo.

• Perfiles de evaluación y de estándares.

A continuación se muestran los perfiles de acuerdo a los estándares (figura 37).

Figura 37

• Procedimiento operacional.

1 Seleccione “Profile” con las teclas ↑ ↓ y presione la te-

cla

ENTER/MENU.

2 Seleccione el perfil de evaluación compatible con la superficie

objetivo con las teclas ↑ ↓ y presione ENTER/MENU.

7.4 Modificación de los parámetros.

Se puede establecer, calcular y mostrar parámetros de evaluación.

7.5 Modificación de filtros de perfil.

Los filtros de perfil pueden ser establecidos como 2CR75, PC75 O GAUSS.

NOTA: Tenga cuidado cuando modifique el estándar de rugosidad, como resultado el

filtro de perfil puede ser modificado automáticamente.

• Filtros de perfil con estándares de rugosidad y perfiles de evaluación.

Los filtros de perfil son establecidos automáticamente de acuerdo a los estándares de

rugosidad y perfil de evaluación seleccionados, como se muestra a continuación (figura

38):

Figura 38

Los filtros de perfil pueden ser modificados, si es necesario, siguiendo el pro-

cedimiento explicado a continuación.

• Procedimiento operacional.

1 Seleccione “Filter” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla EN-

TER/MENU.

2 Seleccione el filtro de perfil compatible con la superficie

objetivo con las teclas ↑ ↓ y presione ENTER/MENU.

7.6 Modificación de elemento relacionado a Cut-off

Los elementos que pueden ser modificados relacionados a Cut-off, incluye el

valor Cut-off (λc, λs), longitud de muestreo de medición (ℓp, ℓ), y limite superior de longi-

tud (A).

NOTA: Puede modificar el elemento relacionado a cut-off desde la pantalla de inicio,

presionando las teclas de atajo ←. Presione la tecla ← para navegar a través de los valores

disponibles.

A continuación se presenta un ejemplo de cómo modificar el valor λc. Otros

elementos relacionados a Cut-off se pueden modificar utilizando procedimientos similares.

• Proceso operacional.

1 Seleccione “λc” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla EN-

TER/MENU.

2 Seleccione el valor de Cut-off compatible con la superficie

objetivo con las teclas ↑ ↓ y presione ENTER/MENU.

El valor cut-off seleccionado, aparece en la pantalla de condi-

ciones de medición.

• Relación entre los valores λc y λs.

Cuando la evaluación de perfil se establece como “R” o “DF” y el valor Cut-off se es-

tablece como λc, una valor es determinado para λs, como se detalla a continuación (figura

39).

Figura 39

Cuando el estándar de rugosidad utilizado es “JIS1982”, el valor cut-off (λs) es

establecido a “NONE”.

Cuando el estándar de rugosidad utilizado es “JIS1994”, “VDA”, o “Free” el

valor cut-off (λs) puede ser establecido a “NONE”.

Cuando el estándar de rugosidad utilizado es “VDA”, o “Free” el valor cut-off

(λs) puede ser establecido a “NONE”.

• Relación entre longitud de muestreo de medición y valor cut-off (λs).

Si “P” es seleccionado para el perfil de evaluación, la longitud de muestreo

de medición es mostrado como un elemento relacionado a cut-off. El símbolo utili-

zado para representar la longitud de muestreo de medición cambia de acuerdo al estándar

de rugosidad establecido. Cuando los estándares de rugosidad “JIS2001”, “ISO1997”,

“VDA”, o “Free”, son seleccionados, ℓp es mostrada

Cuando la longitud de muestreo de medición es establecida, el valor cut-off

(λs), es establecido de acuerdo a como se detalla a continuación (figura 40).

Figura 40

Cuando el estándar de rugosidad utilizado es “VDA”, o “Free” el valor cut-off

(λs) puede ser establecido a “NONE”.

Cuando el estándar de rugosidad utilizado es “JIS1982”, el valor cut-off (λs) es

establecido a “NONE”.

• Relación entre el límite superior de longitud y valor cut-off (λs).

Si “R-Motif” es seleccionado para el perfil de evaluación, el límite superior de longi-

tud (A) es mostrado como elemento relacionado a cut-off.

Cuando el límite superior de longitud es establecido, el valor cut-off (λs) es estable-

cido de acuerdo a como se detalla a continuación (figura 41)

Figura 41

Cuando el estándar de rugosidad utilizado es “Free” el valor cut-off (λs) puede

ser establecido a “NONE”.

Cuando W-Motif es seleccionado, de acuerdo a lo establecido para el límite su-

perior de longitud (B), el valor para el límite superior de longitud (A) es establecido como

se muestra en la tabla.

7.7 Modificación del número de muestreo de longitud.

Con el SJ-210, la longitud de evaluación es derivada de un número de muestreo

de longitudes 1-10 o de una longitud arbitraria (“Opt Length”). Cuando el número de

muestreo de longitudes es establecido a “Opt Length”, la evaluación de longitud puede ser

establecida a una longitud arbitraria.

NOTA: Cuando el perfil de evaluación es establecido a “R-Motif”, el número de

muestreo de longitudes no puede ser establecido.

• Perfiles de evaluación y el numero de muestreo de longitudes.

Cuando el perfil de evaluación ha sido cambiado, el número de muestreo de longitu-

des, es establecido a los siguientes valores iniciales (figura 42). Estos valores pueden ser

modificados a como sea necesario.

Figura 42

NOTA: Cuando “Opt Length” es seleccionado, la evaluación de longitud puede ser

establecida como longitud arbitraria.

Para las reglas de la sentencia GO/NG establecidas con una longitud arbitraria,

solo el valor máximo y el promedio son válido.

• Procedimiento operacional.

1 Seleccione “N” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla EN-

TER/MENU.

2 Seleccione el numero de longitud de muestreo compatible

con la superficie objetivo con las teclas ↑ ↓ y presione EN-

TER/MENU.

Esto es mostrado en la pantalla de condiciones de medición.

CONSEJO: Cuando “Opt Length” es establecido, la evaluación de longitud puede

ser establecida a una longitud arbitraria.

7.8 Establecer la evaluación de longitud a una longitud arbitraria.

El SJ-210 es capaz de establecer la evaluación de longitud a una longitud arbi-

traria en un rango entre 0.30 mm a 16.00 mm.

La evaluación de longitud es la distancia de la longitud arbitraria menos la lon-

gitud pre-travel/post-travel.

Cuando pre-travel/post-travel esta apagado, la distancia de evaluación es igual a

la longitud arbitraria (figura 43).

Figura 43

NOTA: Para establecer el rango de una evaluación de longitud arbitraria depende del

valor cutoff o de los ajustes del filtro. Cuando se realice una medición en una evaluación

de longitud arbitraria, establezca después los ajustes del valor cutoff y de filtro.

El procedimiento para establecer la evaluación de longitud a una longitud arbi-

traria, es diferente cuando “R-Motif” es seleccionado como perfil de evaluación.

• Valores de evaluación de longitud y cut-off

El SJ-210 determina el posible rango de evaluación de longitud basado en los

valores cut-off y filtro, cuando los perfiles de evaluación seleccionados son “R” o “DF”.

Cuando “R-Motif” es seleccionado como perfil de evaluación, la relación entre el limite

superior de longitud y la evaluación de longitud es como a continuación de describe (figura

44)

Figura 44

• Procedimiento operacional

1 Seleccione “N” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla EN-

TER/MENU.

2 Seleccione “Opt Length” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla

ENTER/MENU.

3 Establezca la evaluación de longitud arbitraria compatible con la

superficie objetivo.

4 Presione la tecla ENTER/MENU.

• Procedimiento operacional (perfil de evaluación Motif)

1 Seleccione “Opt Length” con las teclas ↑ ↓ y presione la

tecla ENTER/MENU.

2 Presione la tecla ENTER/MENU.

3 Establezca la evaluación de longitud arbitraria compatible con la

superficie objetivo.

4 Presione la tecla ENTER/MENU

7.11 Modificación del rango de medición

El SJ-210 puede realizar mediciones en uno de los siguientes rangos de medi-

ción: 25, 100, 360 µm y auto.

CONSEJO: Cuando el rango de medición es modificado, la resolución también se

modifica.

• Procedimiento operacional.

1Seleccione “Range” con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla

ENTER/MENU.

2 Seleccione un rango de medición compatible con la superfi-

cie objetivo con las teclas ↑ ↓ y presione la tecla EN-

TER/MENU.

El rango de medición seleccionado es mostrado en la pantalla de condiciones de

medición.

7.13.1 Pantalla de guía para el manejo de condición de medición

• Pantalla de guía (figura 45)

Figura 45

• Acceso al menu de la pantalla de las condiciones de medición.

1 Presione la tecla ENTER/MENU en la pantalla de inicio para

mostrar el menu de la pantalla principal.

2 Seleccione “Meas. Condition” con las teclas ↑ ↓, y presione la

teclas ENTER/MENU